（RE-01325）JT-60SA積分器システムコントローラの試作【掲載期間：2025-04-02～2025-04-21】

（RE-01325）JT-60SA積分器システムコントローラの試作【掲載期間：2025-04-02～2025-04-21】 公告期間： ～ ( )に付します。 1．競争入札に付する事項仕様書のとおり２．入札書等の提出場所等入札説明書等の交付場所及び入札書等の提出場所並びに問い合わせ先(ダイヤルイン)入札説明書等の交付方法上記２．(1)に記載の交付場所または電子メールにより交付する。 ただし、交付は土曜,日曜,祝日及び年末年始(12月29日～1月3日)を除く平日に行う。 電子メールでの交付希望の場合は、「 公告日,契約管理番号,入札件名,当機構担当者名,貴社名,住所,担当者所属,氏名,電話,FAX,E-Mail 」を記載し、上記２．(1)のｱﾄﾞﾚｽに送信。 交付の受付期限は の17:00までとする。 入札説明会の日時及び場所参考見積書類及び技術審査資料 の提出期限入札及び開札の日時及び場所国立研究開発法人 量子科学技術研究開発機構R7.4.2入 札 公 告 (郵便入札可)R7.4.21 製造請負JT-60SA積分器システムコントローラの試作(1)一般競争入札 下記のとおりRE-01325令 和 7 年 4 月 2 日(3)(4)(5)(2)記茨城県那珂市向山８０１番地１nyuusatsu_naka@qst.go.jp契約管理番号茨城県那珂市向山８０１番地１E-mail：ＴＥＬ那珂フュージョン科学技術研究所管理部契約課件 名内 容〒311-0193管 理 部 長 山農 宏之ＦＡＸ 050-3730-8549令和 7 年 5 月 23 日(金)管理研究棟１階 入札室(114号室) 那珂フュージョン科学技術研究所令和 7 年 4 月 22 日(火) 15時00分13時30分実 施 し な い令和 7 年 4 月 21 日029-210-1401(月)(3)(5)令和8年2月27日国立研究開発法人 量子科学技術研究開発機構 那珂フュージョン科学技術研究所履 行 期 限福田 麻美那珂フュージョン科学技術研究所(1)(2)履 行 場 所(4)３．競争に参加する者に必要な資格当機構から指名停止措置を受けている期間中の者でないこと。 全省庁統一競争入札参加資格を有する者であること。 当機構が別に指定する誓約書に暴力団等に該当しない旨の誓約をできること。 ４．入札保証金及び契約保証金 免除５．入札の無効入札参加に必要な資格のない者のした入札入札の条件に違反した者の入札６．契約書等作成の要否７．落札者の決定方法８．その他その他、詳細については、入札説明書によるため、必ず上記２．(2)により、 入札説明書の交付を受けること。 本入札に関しての質問書は、 15:00までに上記問い合わせ先宛てに提出すること。なお、質問に対する回答は 中に当機構ホームページにおいて掲載する。 本件以外にも、当機構ホームページ(調達情報)において、今後の「調達予定情報」を掲載していますのでご確認ください。 (掲載箇所URL：https://www.qst.go.jp/site/procurement/)以上 公告する。 (2)(1)(2)(3)(4)(1)(1)(2) 落札決定に当っては、入札書に記載した金額に当該金額の10パーセントに相当する額を加算した金額(当該金額に1円未満の端数があるときは、その端数を切り捨てた金額とする)をもって落札価格とするので、入札者は、消費税に係る課税事業者であるか免税事業者であるかを問わず、見積もった金額の110分の100に相当する金額を入札書に記載すること。 (4) 令和7年4月8日 (火)(2)前項の誓約書を提出せず、又は虚偽の誓約をし、若しくは誓約書に反することとなったときは、当該者の入札を無効とするものとする。 (3)(1)この入札に参加を希望する者は、参考見積書等の提出時に、当機構が別に指定する暴力団等に該当しない旨の誓約書を提出しなければならない。 令和7年4月15日 (火) 技術審査に合格し、予定価格の制限の範囲内で、最低価格をもって有効な入札を行った入札者を落札者とする。 (最低価格落札方式)(5)(5) 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 契約事務取扱細則第10条の規定に該当しない者であること。ただし、未成年者、被保佐人又は被補助人であって、契約締結のために必要な同意を得ている者についてはこの限りでない。 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 契約事務取扱細則第11条第１項の規定に該当しない者であること。 本契約締結にあたっては、当機構の定める契約書(契約金額が500万円以上の場合)もしくは請書(契約金額が200万円以上500万円未満の場合)を作成するものとする。 JT-60SA積分器システムコントローラの試作仕様書国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構那珂フュージョン科学技術研究所先進プラズマ研究部 先進プラズマ統合解析グループ11. 一般仕様1.1 件 名JT-60SA積分器システムコントローラの試作1.2 目 的国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構(以下「QST」という。)では、幅広いアプローチ活動の一環として実施するサテライト・トカマク計画において、JT-60SA装置の運転・試験及び改良等を実施する。JT-60SA装置では、真空容器内に取り付けられた磁気プローブ(ピックアップコイル、磁束ループなど)の両端に発生する微小な電圧信号を積分処理後磁場値に変換し、高速制御計算機で真空容器内のプラズマ位置形状を求めプラズマを安全に制御し実験を行う。本仕様は、今後の実験における本格的なプラズマ制御に向けて、検出された磁気プローブ信号を積分処理する積分器システムの中枢を担うシステムコントローラについて、最新の機器を用いた改良型システムコントローラを試作するものである。1.3 業務内容(1) JT-60SA積分器システムコントローラの試作 一式(2) 機能確認試験 一式1.4 納 期令和 8年 2月27日(金)1.5 納入場所及び納入条件(1) 納入場所茨城県那珂市向山801番地1QST 那珂フュージョン科学技術研究所 JT-60実験棟 全系CAMAC盤室(2) 納入条件据付調整後渡しとする。1.6 検査条件1.3項に示す作業及び機能試験検査の合格、1.7項に定める提出図書の内容確認をもって検査合格とする。1.7 提出図書表1 提出図書一覧図 書 名 提 出 時 期 部 数 確 認1 作業工程表 契約後速やかに 2部 不要２ 試験要領書試験開始2週間前まで＊1部確認後コピー2部提出のこと。3部 要３ 試験成績書 納入時 ２部 要2(確認方法)提出書類の「確認」は次の方法で行う。受注者は、最初に確認のための書類として各1部提出するものとする。QSTは、確認のために提出された書類に対しては、受領印を押印して返却する。最終的に受注者は、受領印を押印された書類の写しをQSTに必要部数提出するものとする。「再委託承諾願」は、QSTの確認後、書面にて回答するものとする。(電子媒体)提出物のうち電子媒体は、MS Word、あるいは PDF 書類の形式において CD-R/DVD-R/電子メール/QSTが契約後に提供するファイル共有システムのいずれかにより提出すること。ただし、この方法によることができない電子データについては、QST の情報セキュリティ実施規程等を遵守し、QST と協議して提出方法を決定すること。1.8 契約不適合責任契約不適合責任については、契約条項のとおりとする。1.9 グリーン購入法の推進(1)本契約において、グリーン購入法(国等による環境物品等の調達の推進等に関する法律)に適用する環境物品(事務用品、ＯＡ機器等)が発生する場合は、これを採用するものとする。(2)本仕様に定める提出図書(納入印刷物)については、グリーン購入法の基本方針に定める「紙類」の基準を満たしたものであること。1.10 協 議本件に関して疑義が生じた場合は、QSTと協議の上、決定に従うものとする。1.11 その他(1)受注者は、量研が量子科学技術の研究・開発を行う機関であり、高い技術力及び高い信頼性を社会的に求められていることを認識するとともに、量研の規程等を順守し、安全性に配慮しつつ業務を遂行しうる能力を有する者を従事させること。(2)受注者は、本件業務を実施することにより取得したデータ、技術情報、成果その他のすべての資料及び情報を量研の施設外において、発表若しくは公開することはできない。ただし、あらかじめ書面により量研の承認を受けた場合はこの限りではない。４ 取扱い説明書 納入時２部電子媒体1式要５外国人来訪者票(QST指定様式)入構の2週間前まで(外国籍の者、又は、日本国籍で非居住の者の入構がある場合に提出すること)電子媒体1式要６ 再委託承諾願作業開始2週間前まで(下請負等がある場合に提出すること)1部 要3(3)受注者は、異常事態等が発生した場合、量研の指示に従い行動するものとする。2. 技術仕様2.1 積分器システムの概要JT-60SAでは、真空容器内に取り付けられた電磁気検出器(ピックアップコイル、磁束ループなど)からの信号を基に高速制御計算機で真空容器内のプラズマ位置形状を求めプラズマを安全に制御することで実験運転を行う。積分器システムは、図１に示すようにプラズマの位置や形状の変化によって磁気検出器の両端に発生する微小な電圧信号を積分処理することでプラズマが発生する磁束量を求め、上位の高速制御計算機が使用するデジタル信号に変換するための機器として用いる。電磁気検出器(微小コイル)電圧信号(磁場の時間変化)プラズマ位置・形状の変化0.250.751.25-10 0 +10VMHz入力電圧出力周波数出力周波数基準周波数(0.75MHz)カウント値＝積分値(デジタル信号)電圧周波数(VF)変換器昇降計数機(積分器)電圧/周波数(V/F)変換 – 昇降計数方式：小容量コンデンサーの充放電回数を計数JT-60SAトカマク断面t時間比例t一定値HzHzt t入力電圧 周波数出力 積分結果 Count(V・s)(動作原理)加算 減算図１ 積分器システムの動作概要JT-60SA で採用している積分器システムは、図２に示すようにコンパクト PCI バスシステムに格納された VF変換(以降「AFE」)ボード、積分(以降「DIB」)ボード、システムコントローラ(以降「SCON」)ボード、およびアナログ/デジタル電源ユニットで構成され、図 3 に示すように 16 式の積分器システムが連携して動作している。SCON ボードは、リフレクティブメモリ(以降「RM」)ネットワーク経由で上位計算機との通信を行う役割を担い、状態遷移情報等を受け取り、DIBボードに対して測定の開始や停止、電圧校正等の状態制御を行う。4電磁気検出器1 VF変換ボード1(AFE1)VF変換パルス信号4チャネル積分ボード1(DIB1)4ch×3レンジ積分処理レンジ切替cPCI-bus出力システムコントローラボードリフレクティブメモリ(RM)SDRAM:128MB電磁気データ収集用RMネットワーク積分処理レンジ切替cPCI-bus出力1～4チャネル・・VF変換パルス信号4チャネル積分ボード2(DIB2)4ch×3レンジ積分処理レンジ切替cPCI-bus出力積分処理レンジ切替cPCI-bus出力5～8チャネル・・積分器システム(1式)FPGAFPGA積分処理した3レンジ分のカウント値所定の閾値から適正なレンジを判断して工学値(磁束量データ)に変換・・・・・・・・電磁気検出器2 VF変換ボード2(AFE2)電磁気検出器3 VF変換ボード3(AFE3)電磁気検出器4 VF変換ボード4(AFE4)電磁気検出器5 VF変換ボード5(AFE5)電磁気検出器6 VF変換ボード6(AFE6)電磁気検出器7 VF変換ボード7(AFE7)電磁気検出器8 VF変換ボード8(AFE8)cPCI-buscPCI-busダイレクトメモリアクセス(DMA)によって8チャネル分の磁束量データを所定のメモリに格納する。 アナログ電源ユニット デジタル電源ユニット電源供給 電源供給 電源供給コンパクトPCIシステムラック上位計算機との状態遷移情報等の受け渡し図2 積分器システム1式の構成図全系アナログ信号処理装置盤D 全系アナログ信号処理装置盤C 全系アナログ信号処理装置盤B 全系アナログ信号処理装置盤A積分器システム#0x0D積分器システム#0x0E積分器システム#0x0F積分器システム#0x10積分器システム#0x09積分器システム#0x0A積分器システム#0x0B積分器システム#0x0C積分器システム#0x05積分器システム#0x06積分器システム#0x07積分器システム#0x08積分器システム#0x01積分器システム#0x02積分器システム#0x03積分器システム#0x04図３ 積分器システムの全体(16式)構成図52.2 機器仕様2.2.1 JT-60SA積分器システムコントローラの試作積分器システムは、図４に示すように積分器システムの制御を担う SCON ボードを筆頭に、DIB ボードやAFEボードなど多数のモジュールと電源ユニットで構成されている。アナログ電源ユニット#1AFEボード#2AFEボード#1AFEボード#4AFEボード#3アナログ電源ユニット#2AFEボード#6AFEボード#5AFEボード#8AFEボード#7DIBボード#2DIBボード#1SCON+RMボードデジタル電源3ユニット#デジタル電源ユニット#1アラーム出力ユニットデジタル電源ユニット#2仕様範囲(RMボード除く)積分器システム図４ 積分器システムの構成表２に現行SCONボードの仕様を示す。表2 SCONボード仕様品 名 型 式 メーカ名ESI-SYSTEM SCONボード(Core i7,メモリ4GB,SSD(SLC)32GB,OS:Windows 7)cPCI-ET6510V/620L/M4G エムアイエス㈱本試作では、表２に示す現行SCONボードについて、代替CPUを用いて下記に示す仕様を満足するSCONボードを試作すること。１)OSは、Windows11を使用すること。２)メモリは、最低８GB以上とし、システムの機能上必要十分な容量を搭載すること。３)記憶容量は、最低32GB以上とし、システムの機能上必要十分な容量を搭載すること。４)本試作のSCONボードは、現行SCONボードと無加工で入れ替えができること。５)本試作のSCONボードは、現行SCONボードの機能を全て動作できること。６)本試作のSCONボードを搭載した積分器システムと現行SCONボードを搭載した積分器システムは、混在しても正しく機能し、JT-60SAの実験が正常に行えること。2.2.2 機能確認試験本試作のSCONボードが、現行SCONボードの機能を備えているか確認するため、以下に示す機能試験を実施し、正常に動作することを確認すること。また本試験は、積分器システムがマスター(#0x01)の場合と、スレーブ(#0x01以外)の場合、両方の場合について各々確認を行うこと。① 動作モード切換え試験試験用PC(QST支給品)からの制御指令により、積分器システムが表３に示す各動作モードに正しく切り替わることを確認すること。6表３ 動作モード切換え試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準 備 考1 起動時試験用PCで試験プログラムを起動し、DIBボードが IDLEモードであること。2 初期値指令試験プログラムから INITボタンをクリックすることでIDLEから INIT→CALモードに遷移し、DIBボードのCAL_LEDが点灯すること。3Cal.モード中IDLE指令CALモード中に試験プログラムから IDLEボタンをクリックすることでCALからIDLEモードに遷移し、DIBボードのCAL_LEDが消灯すること。4 Cal.モード制御指令試験プログラムからCALボタンをクリックすることでIDLEからCALモードに遷移し、DIBボードのCAL_LEDが点灯すること。5 Mes.モード制御指令試験プログラムからMESボタンをクリックすることでCALからMESモードに遷移し、DIBボードのMESモードLEDが点灯し、CAL_LEDが消灯すること。6 積分時間タイムアップMESモード遷移後、10秒*1経過でステータスがCALモードに遷移しDIBボードのCAL_LEDが点灯し、MES_LEDが消灯すること。*1積分時間パラメータを10秒に設定しておく7Mes.モード中IDLE指令MESモード中に試験プログラムから IDLEボタンをクリックすることで IDLEモードに遷移し、DIBボードのMES_LEDが消灯すること。8 動作シーケンス１試験用PCで動作シーケンス１を選択し、DIBボードが IDLE→INIT→CAL→MES→CALに遷移すること。9 動作シーケンス2試験用PCで動作シーケンス２を選択し、DIBボードが IDLE→INIT→CAL→MES→IDLEに遷移すること。② 自動Mes.モード移行試験試験プログラムの INITボタンをクリックすることでCALモードに移行し、ゼロ点較正５回*2終了し、その３秒*2後に自動的にMESモードに遷移しMESモードLED点灯すること。(*2︓ゼロ点較正周期パラメータを5秒、ゼロ点較正周期パラメータを5回、ディレイ時間を3秒に設定しておく)③ 自動ゼロ点較正試験電磁気信号入力に電磁気センサ相当の抵抗素子を接続/短絡後、試験プログラムのCALボタンをクリックすることでCALモードに移行し、自動ゼロ点較正行い、表４に示す較正値になることを確認すること。表４ 自動ゼロ点較正試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準1短絡レンジ１ 理論値550±0.1[kHz]/4[kHz]= 137.5±0.025[count]であること。2 レンジ２ 理論値600±0.1[kHz]/4[kHz]= 150±0.025[count]であること。3 レンジ３ 理論値650±0.1[kHz]/4[kHz]= 162.5±0.025[count]であること。4抵抗素子接続レンジ１ 理論値550±0.1[kHz]/4[kHz]= 137.5±0.025[count]であること。5 レンジ２ 理論値600±0.1[kHz]/4[kHz]= 150±0.025[count]であること。6 レンジ３ 理論値650±0.1[kHz]/4[kHz]= 162.5±0.025[count]であること。7 自動ゼロ点較正周期 約10秒後にCAL結果を更新すること。7④ 積分処理動認試験積分時間パラメータを1000秒に設定し、試験プログラムのCALボタンをクリックすることでCALモードに移行する。CALモード移行10秒以上経過後、MESボタンをクリックすることでMESモードに移行する。電磁気信号入力に模擬電圧を印加/変動させ、所定のサンプリング周期毎に積分結果を積分結果領域に転送していることを確認すること。⑤自動レンジ切り替え試験積分時間パラメータを1000秒に設定し、試験プログラムのCALボタンをクリックすることでCALモードに移行する。CALモード移行10秒以上経過後、MESボタンをクリックすることでMESモードに移行する。電磁気信号入力に模擬電圧を印加すると共に電圧値を変化させることで、所定の閾値電圧に達した時、表５に示すとおり、入力レンジが自動的に切り替わることを確認すること。試験での各レンジ閾値を表６に示す。表５ 自動ゼロ点較正試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準1正レンジ1→2入力電圧+0.984Vの時、レンジ１であること。2 入力電圧+1.0Vの時、レンジ2であること。3レンジ2→3入力電圧+9.76Vの時、レンジ2であること。4 入力電圧+10.0Vの時、レンジ3であること。５レンジ3→2入力電圧+8.24Vの時、レンジ3であること。６ 入力電圧+8.0Vの時、レンジ2であること。７レンジ2→1入力電圧+0.816Vの時、レンジ2であること。 ８ 入力電圧+0.8Vの時、レンジ１であること。９負レンジ1→2入力電圧-0.984Vの時、レンジ１であること。10 入力電圧-1.0Vの時、レンジ2であること。11レンジ2→3入力電圧-9.76Vの時、レンジ2であること。12 入力電圧-10.0Vの時、レンジ3であること。13レンジ3→2入力電圧-8.24Vの時、レンジ3であること。14 入力電圧-8.0Vの時、レンジ2であること。15レンジ2→1入力電圧-0.816Vの時、レンジ2であること。16 入力電圧-0.8Vの時、レンジ１であること。8表６ 自動ゼロ点較正試験閾値No. 切り替えレンジ 験 閾 値(理 論 値)1 レンジ1→2 ±1.0V(125[count])2 レンジ2→3 ±10.0V(125[count])3 レンジ2→1 ±0.8V(100[count])4 レンジ3→2 ±8.0V(100[count])⑥ 長時間積分の確認試験電磁気信号入力に電磁気センサ相当の抵抗素子を接続/短絡後、試験プログラムのMESボタンをクリックすることでMESモードに移行することで積分処理が開始されると共に100秒、200秒、500秒、1000秒、2000秒、3000秒経過後のドリフト量を確認し、ドリフトが表７に示す判定基準範囲内に収まることを確認すること。表７長時間積分確認試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準1レンジ1入力短絡100秒、200秒、500秒、1000秒、2000秒、3000秒の積分結果が±0.000002[V・s/秒]目標値であること。ただし、±0.00002[V・s/秒]までは合格範囲とする。また、波形に大きなノイズが無いこと。2 抵抗素子接続3レンジ2入力短絡 100秒、200秒、500秒、1000秒、2000秒、3000秒の積分結果が±0.00002[V・s/秒]目標値であること。ただし、±0.0002[V・s/秒]までは合格範囲とする。また、波形に大きなノイズが無いこと。4 抵抗素子接続5レンジ3入力短絡 100秒、200秒、500秒、1000秒、2000秒、3000秒の積分結果が±0.001[V・s/秒]目標値であること。ただし、±0.01[V・s/秒]までは合格範囲とする。また、波形に大きなノイズが無いこと。6 抵抗素子接続⑦ 工学値変換係数試験SCONプログラムをデバックモードで起動し、チャネル毎の工学値変換係数を以下の値に設定する。電磁気信号入力に模擬電圧(0.4V)を印加、試験プログラムのMESボタンをクリックすることでMESモードに移行し、積分処理が開始され、SCONプログラムが取得するチャネル毎の微分値が表８に示す判定基準値と一致することを確認すること。【工学値変換係数】・CH1、5 : 1.645・CH2、6 : 1.692・CH3、7 : 17.4・CH4、8 : 1.0表８ 自動ゼロ点較正試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準1 CH1、5微分値が(0.0001 ±0.000002)×1.645[V・s]になること。92 CH2、6微分値が(0.0001 ±0.000002)×1.692[V・s]になること。3 CH3、7微分値が(0.0001 ±0.000002)×17.4[V・s]になること。4 CH4、8微分値が(0.0001 ±0.000002)×1.0[V・s]になること。⑧ フィードバックゲイン試験積分ゲインを全CH、全レンジ︓0に設定し、試験プログラムのCALボタンをクリックすることでCALモードに移行する。模擬電圧を0Vから印加し、電圧値を変化させながら試験プログラムのCALモニタ画面のゼロ点較正値が表９に示す判定基準値と一致することを確認すること。表９ フィードバックゲイン試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準1 全CH、全レンジ入力電圧を変動してもゼロ点較正値が以下であること。レンジ1︓137.5[count]レンジ2︓150[count]レンジ3︓163.5[count]⑨ システムエラー試験試験プログラムから表１０に示す操作を実行し、判定基準のとおりエラーの発生と復帰が出来ることを確認すること。表１０ 自動ゼロ点較正試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準1IDLE中Mes.モード指令制御指令エラー(0x00000010)が試験プログラムの画面上で確認できること。DIBボードのERR_LEDが点灯すること。2 エラークリア制御指令エラークリア―が試験プログラムの画面上で確認できること。DIBボードのERR_LEDが消灯すること。3Cal. モード中INIT指令制御指令エラー(0x00000010)が試験プログラムの画面上で確認できること。DIBボードのERR_LEDが点灯すること。4Mes. モード中INIT指令制御指令エラー(0x00000010)が試験プログラムの画面上で確認できること。DIBボードのERR LEDが点灯すること。5IDLE中IDLE指令制御指令エラー(0x00000010)が発生しないこと。DIBボードのERR_LEDが消灯していること。6Cal. モード中Cal. モード指令制御指令エラー(0x00000010)が発生しないこと。DIBボードのERR_LEDが消灯していること。7Mes. モード中Mesl. モード指令制御指令エラー(0x00000010)が発生しないこと。DIBボードのERR_LEDが消灯していること。108共通パラメータ異常設定積分時間パラメータを5000秒に設定後、試験プログラムから INIT指令を出力し、共通パラメータエラー(0x02000000)が試験プログラムの画面上で確認できること。9共通パラメータ正常設定積分時間パラメータを1000秒に設定後、試験プログラムから INIT指令を出力し、試験プログラムの画面上の共通パラメータエラー(0x02000000)がクリアされること。10 FBゲインエラーFBゲインを 10.0に設定後、試験プログラムから INIT指令を出力し、FBゲインエラー(0x20000000)が試験プログラムの画面上で確認できること。11 SCONプログラム停止 ハートビートエラーによる 「SCON LOST」 が確認できること。⑩ シャットダウン試験試験プログラムから表1１に示す操作を実行し、シャットダウン動作と再起動が正常に出来ることを確認すること。表1１ シャットダウン試験項目と判定基準No. 試 験 項 目 判 定 基 準1 シャットダウン OS(Windows 11)がシャットダウンすること。2 再起動 OS(Windows 11)、SCONプログラムが正常に起動すること。以上