サムコ株式会社
株式会社
| 法人番号 | 4021001000850 |
|---|---|
| 郵便番号 | 251-0033 |
| 所在地 | 神奈川県藤沢市片瀬山3丁目16番18号 |
| 法人番号指定年月日 | 2015年10月5日 |
| 処理区分 | 新規 |
| 更新年月日 | 2015年11月6日 |
| 変更年月日 | 2015年10月5日 |
適格請求書発行事業者登録番号(インボイス番号)
| 状態 | 未登録 |
|---|
EDINET情報
EDINET登録なし
会社概要(公式サイトからの要約)
会社概要
基本情報
- 社名: サムコ株式会社
- 本社所在地: 京都府京都市
- 代表者: 辻 理
企業理念
サムコは薄膜技術で世界の産業科学に貢献します
役員
- 辻 理
- 川邊 史
- 山下 晴彦
- 宮本 省三
- 佐藤 清志
監査役
- 村上 正紀
- 高須 秀視
- 藤田 静雄
- 桺本 依子
- 辻村 茂
- 西尾 方宏
- 木村 学
事業内容
サムコは、炭化ケイ素(SiC)や窒化ガリウム(GaN)を用いた次世代パワーデバイス分野、半導体レーザー、LEDなどのオプトエレクトロニクス分野、高周波フィルタ、コンデンサなどの電子部品分野へ、最先端のCVD装置、ドライエッチング装置、ドライ洗浄装置を提供しています。
沿革
1988年 - 化合物半導体プロセス専用ICPエッチング装置 RIE-140iP/iPC
2002年 - 液化有機ケイ素化合物を用いたプラズマCVDによるSiN成膜技術
2005年 - Boschプロセス用ICPエッチング装置と絶窒膜形成用CVD装置の3次元実装への応用
2007年 - Properties of SiCN films prepared by Cathode Coupled PE-CVD Using Liquid Source Material
2008年 - 化合物半導体プロセス専用ICPエッチング装置 RIE-140iP/iPC
2009年 - SAMCO One Stop Solutionの紹介
2010年 - 化合物半導体のディープエッチング
2011年 - SiO2、SiC高速エッチングプロセスデータ
2012年 - 研究開発用 高速シリコンディープエッチング装置 RIE-400iPB プロセスデータ
2013年 - マイクロLED向けICPエッチングの加工例
2014年 - 多種多様な材料のプラズマダイシング ―メタル、樹脂付Siウエハーから化合物半導体まで―
2015年 - PD-270STLCを用いた電子部品向けTEOS-SiO2成膜
2016年 - 窒化物のバルク基板への取り組み
2017年 - GaNエピタキシャル薄膜とALD薄膜の界面準位密度
2018年 - Aqua Plasmaによる酸化銅の還元
2019年 - 接着剤や加熱を用いないCOP製マイクロ流体チップの実現
2020年 - マイクロバンプへのAqua Plasmaの応用
2021年 - ALD(Atomic Layer Deposition)装置によるHfO2、ZrO2の成膜
2022年 - 電子デバイス製造向けクラスターツールシステム「クラスターH™」の販売を開始
2023年 - 3室CVD装置「PD-2203LC」の紹介
2024年 - トレンチ型SiC MOSFETの実現に向けたICPエッチング技術
2025年 - 原子層レベルのエッチング制御、Atomic Layer Etching装置の紹介
情報取得日時: 2026-01-26 05:55
情報取得元: https://www.samco.co.jp/
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